D8 DISCOVER — многоцелевой дифрактометр Bruker для материаловедения: порошки, поликристаллы, тонкие плёнки, эпитаксиальные структуры, наноматериалы.
Гониометр двухкружный, с независимыми шаговыми двигателями и оптическими энкодерами, привод не требует обслуживания. В исполнении D8 DISCOVER Plus доступен вертикальный гониометр ATLAS с неколлинеарным плечом: точность ±0,007° по 2θ по всему угловому диапазону (проверено по эталону NIST SRM 1976), диапазон 2θ до 160°, минимальный шаг 0,001°.
Источники — три варианта:
• TWIST-TUBE — аноды Cr, Cu, Mo, Ag, мощность до 3 кВт в зависимости от анода, переключаемый точечный/линейный фокус 0,4×16 мм²;
• Turbo X-ray Source (TXS/TXS-HE) — линейный фокус 0,3×3 мм², фокусная яркость 6 кВт/мм², аноды Cu, Co, Cr, Mo, мощность 3,2 кВт (Cr), 5,4 кВт (Cu, Mo), 2,8 кВт (Co), напряжение до 50 кВ;
• IµS — микрофокусный источник до 50 Вт с однофазным питанием, пучок до 180×180 мкм², интегральный поток до 8×10⁸ имп/с на выходе зеркала, расходимость до 0,5 мрад, оптика MONTEL и MONTEL Plus.
Оптика. TRIO с моторизованным переключением трёх конфигураций: фокусирующая схема Брэгга-Брентано для порошков, параллельный пучок высокой интенсивности Kα1,2 для капилляров, скользящего падения и рефлектометрии, параллельный пучок высокого разрешения Kα1 для эпитаксиальных плёнок. Возможность сменить геометрию без разборки и переюстировки — то, что превращает прибор из специализированного в универсальный. Монохроматоры Ge(220) и Ge(004), в том числе типа Бартельса, с установкой без юстировки (SNAP.LOCK); PATHFINDER Plus автоматически переключает щель и анализирующий кристалл.
Детекторы. EIGER2 R (250K/500K) — до 500 000 пикселей на площади 75×75 мм², гибридный фотонный счёт, режимы 0D/1D/2D. LYNXEYE XE-T — энергетическое разрешение менее 380 эВ при 8 кэВ, работа с анодами Cr, Co, Cu, Mo, Ag без Kβ-фильтров и вторичных монохроматоров, по заявлению производителя до 450 раз быстрее обычных детекторов.
Столики. Универсальный столик UMC — образец до 50 кг и до 300 мм в диаметре, перемещение по x и y ±150 мм, по Z до 50 мм, неограниченное вращение φ, наклон ψ до 55°. Центрическая эйлерова колыбель — перемещение ±40 мм, ψ от −11° до 98°, образец до 1 кг.
Камеры для измерений в неатмосферных условиях: температура от 12 до 2500 К, давление от 10⁻⁴ мбар до 100 бар, влажность 5–95 %.
Методики: фазовый анализ качественный и количественный, определение и уточнение структуры, микронапряжения и размер кристаллитов, рефлектометрия, дифракция скользящего падения, дифракция в плоскости, высокоразрешающая дифракция, малоугловое рассеяние в скользящей геометрии, остаточные напряжения, текстура и полюсные фигуры, микродифракция, широкоугловое рассеяние, полное рассеяние с анализом функции парного распределения.
Программное обеспечение: DIFFRAC.SUITE (COMMANDER, WIZARD, EVA, LEPTOS, TEXTURE, TOPAS, SAXS).
