Micro Solutions / Аналитические решения
Металлография и контроль микроструктуры
Размер зерна, фазы, неметаллические включения и изменения структуры после обработки.
Как решается задача
Шлиф готовят шлифованием и полированием, при необходимости травят. Оптическая микроскопия и анализ изображений дают количественные показатели; СЭМ уточняет морфологию и состав включений при наличии EDS.
Подходящее оборудование
- EUROMEX Delphi-X Observer (металлографический)
- EUROMEX Delphi-X Inverso (инвертированный)
- EUROMEX Achios-X Observer (металлографический)
- EUROMEX Achios-X Inverso (металлографический)
- EUROMEX iScope materials science (металлографический)
- SEMPLOR NANOS
- LANOPTIK iWorks EX (документирование и измерение)
- LANOPTIK iWorks LT (мультифокус и сшивка изображений)
- LANOPTIK iWorks FX (счёт частиц, флуоресценция)
- LANOPTIK iWorks FC (анализ чугуна)
- SEMPLOR ONYX
- SEMPLOR NANOS EBSD