Micro Solutions / Аналитические решения
Микроструктура, морфология и элементный микроанализ
Размер и форму структурных элементов, включения, состояние поверхности и локальный элементный состав.
Как решается задача
Оптическая микроскопия даёт обзор шлифа или поверхности, СЭМ — изображение микрорельефа. Элементное картирование выполняют с EDS-детектором либо методом микро-РФА; подготовку поверхности выбирают под задачу.
Подходящее оборудование
- Bruker M4 TORNADO
- Bruker M4 TORNADO PLUS
- Bruker M6 JETSTREAM
- EUROMEX Delphi-X Observer (металлографический)
- EUROMEX Delphi-X Inverso (инвертированный)
- EUROMEX Achios-X Observer (металлографический)
- EUROMEX Achios-X Inverso (металлографический)
- EUROMEX iScope materials science (металлографический)
- EUROMEX iScope materials science (поляризационный)
- SEMPLOR NANOS
- SEMPLOR ONYX
- SEMPLOR NANOS EBSD
