Micro Solutions / Аналитические решения
Причины разрушения, дефекты и внутренняя структура
Место зарождения дефекта, морфологию разрушения и внутренние неоднородности изделия.
Как решается задача
Оптическая и электронная микроскопия исследует поверхность излома, микротомография — внутренний объём. При необходимости добавляют элементный и термический анализ; причину устанавливают с учётом условий изготовления и эксплуатации.
Подходящее оборудование
- Bruker X4 POSEIDON
- Bruker SKYSCAN 1273
- Bruker SKYSCAN 1275
- EUROMEX Delphi-X Observer (металлографический)
- EUROMEX Delphi-X Inverso (инвертированный)
- EUROMEX Achios-X Observer (металлографический)
- EUROMEX Achios-X Inverso (металлографический)
- SEMPLOR NANOS
- NETZSCH DSC 300 Caliris (Supreme / Select / Classic)
- NETZSCH DSC 500 Pegasus
- SEMPLOR ONYX
- SEMPLOR NANOS EBSD
